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纳米级集成电路系统电源完整性分析
(日)桥本正德,(美)拉杰·耐尔等著;戴澜,陈铖颖,张晓波译2017 年出版314 页ISBN:9787111569879进入21世纪以来,集成电路制造工艺的发展日新月异,目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题,直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此,本书作者以系统级电源完整...
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