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第一章 序言 1

1.1 绪论 1

1.2 历史的回顾 1

1.3 可靠性的定义 3

1.4 什么是可靠性的效用？ 4

1.5 平均故障间隔时间 7

1.6 平均失效时间 9

1.7 可用性 9

1.8 不可用性或停机率 11

1.9 环境条件的影响 12

1.10 故障率和平均故障间隔时间（MTBF）的一般定义 14

第二章 数学基础 18

2.1 概率 18

2.2 概率的古典定义 18

2.3 用相对频率定义概率 20

2.4 对立事件 20

2.5 复合事件 21

2.6 相容事件的联合概率 24

2.7 一般加法定理 26

2.8 条件概率 28

2.9 贝叶斯定理 30

2.10 概率图表 33

2.11 二项式分布 35

2.12 二项式分布应用举例 40

2.13 最大可能出现的结果 43

2.14 泊松分布 44

2.15 泊松分布应用举例 47

2.16 指数失效定律 49

2.17 统计学 53

2.18 平均值 53

2.19 其它定位度量法 54

2.20 变率 55

2.21 态分布 57

3.2 可靠性模型 62

3.1 系统划分 62

第三章 可靠性预测 62

3.3 串联系统的失效分析 64

3.4 串联系统应用举例 66

3.5 并联系统 68

3.6 其它并联结构 69

3.7 并联系统应用举例 70

3.8 混合系统的分析 72

3.9 冗余度的使用 73

3.10 时间冗余度 75

3.11 纠错编码 77

3.12 多通道冗余度 79

3.13 冗余级 82

3.14 双重开关装置的使用 86

3.15 三重冗余度 87

3.16 二重系统和三重系统的比较 89

3.17 四重逻辑 92

3.18 冗余系统的平均故障间隔时间 93

3.19 近似的方法 96

3.20 集成电路 97

3.21 设计故障 100

3.22 软件故障 101

3.23 失效方式对设计的影响 102

4.1 失效率随时间变化 105

第四章 元件失效数据 105

4.2 失效的类型 107

4.3 影响失效率的因素 109

4.4 温度的影响 110

4.5 温度和失效率 110

4.6 估计内部温升 113

4.7 电源电压的影响 115

4.8 环境因素 116

4.9 测量失效率的难点 117

4.10 失效率数据的来源 118

4.11 置信度极限和可信度 121

4.12 评价试验结果 122

4.13 序贯试验 125

4.14 仪器的环境试验 127

4.15 筛选和失效方式分析 130

4.16 筛选试验 131

4.17 对特别高的可靠性的需要 132

第五章 可靠性设计 136

5.1 可靠性设计的几个方面 136

5.2 元件公差的影响 137

5.3 最坏情况下设计开关线路 138

5.4 最坏情况下设计的困难 140

5.5 统计设计 141

5.6 元件选择 141

5.7 降额使用以提高可靠性 144

5.8 对元件质量的评价 145

5.9 机械设计 148

5.10 干扰和噪声的防护 149

5.11 冗余度的使用 152

5.12 需维修的和不需维修的系统 154

5.13 故障指示器的使用 155

5.14 数字故障指示器 156

5.15 模拟冗余度 157

5.16 并联冗余度 159

5.17 “失效—安全”线路 161

5.18 集成电路冗余度 164

5.19 今后发展的趋势 168

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