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超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统
(美)Michael L.Bushnell,(美)Vishwani D.Agrawal著;蒋安平,冯建华,王新安译2005 年出版511 页ISBN:7121014904VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试,本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础,介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...
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电机试验技术及设备手册
才家刚,吴亚旗等编著2011 年出版620 页ISBN:9787111327233本书包括各种常见类型电机的试验方法、数据计算、试验报告编制、性能数据分析;试验设备选型和组建、试验线路和仪表的配置等。